美國Calmetrics純元素標準片Pd無限厚標準(zhun)片是(shi)用(yong)(yong)來為(wei)膜厚測(ce)(ce)試(shi)儀建(jian)立標準(zhun)檔(dang)案(an)的，同時(shi)也是(shi)檢驗和校準(zhun)膜厚測(ce)(ce)試(shi)儀測(ce)(ce)試(shi)數(shu)據(ju)是(shi)否準(zhun)確的為(wei)一標準(zhun)。它屬于易損易耗件，但是(shi)其的使用(yong)(yong)壽命(ming)卻與操作(zuo)方法及存放環境息息相關，若(ruo)操作(zuo)得當(dang)，小(xiao)心保(bao)護(hu)且存放在(zai)干燥(zao)密封的皿(min)器內，那么可大大延長其的使用(yong)(yong)時(shi)間。膜厚標準(zhun)片是(shi)膜厚測(ce)(ce)試(shi)儀（X射線鍍層測(ce)(ce)厚儀）*的。

美國Calmetrics純元素標準片Pd無限厚實物圖片：

美(mei)國(guo)Calmetrics公(gong)司專(zhuan)業(ye)生產X射線(xian)熒光鍍(du)層薄(bo)膜(mo)標(biao)準(zhun)件(jian)及元(yuan)素含量標(biao)準(zhun)件(jian)，提供(gong)對標(biao)準(zhun)件(jian)的校準(zhun)服務，公(gong)司通過ISO/IEC 17025認(ren)證。公(gong)司提供(gong)所有證書符合NIST（National Institute of Standards and Technology美(mei)國(guo)國(guo)家(jia)標(biao)準(zhun)與技術研究院）標(biao)準(zhun)或ANSI（American National Standards Institute美(mei)國(guo)國(guo)家(jia)標(biao)準(zhun)學會(hui)）標(biao)準(zhun)。其生產的標(biao)準(zhun)片質量精(jing)良，精(jing)度高、穩定性(xing)好。

Calmetrics鍍層標(biao)準(zhun)片適用于費希爾Fischer、韓國ISP、日(ri)立Hitachi（包括：牛津(jin)(jin)儀器Oxford（CMI）、精(jing)工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微(wei)先鋒Micro Pioneer、島津(jin)(jin)、電測(ce)、納優、天(tian)瑞、華唯等各廠(chang)牌的(de)測(ce)厚儀。

X射線測厚儀鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)標準片(pian)一般分為單鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)，雙(shuang)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)、多鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)、合金鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)、化學鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)。如：單鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Au/xx，雙(shuang)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Ni/xx，三鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Sn-Pb/xx，合金鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Ni-P/xx。

鍍層標(biao)準(zhun)片適(shi)用于(yu)X射線(xian)類儀器的標(biao)準(zhun)。市面上絕大多部分的手持(chi)式熒光儀的厚度標(biao)準(zhun)件都來自于(yu)美國Calmetrics公司。

X射(she)線(xian)標準片又叫膜厚(hou)(hou)儀校(xiao)準片或者薄(bo)膜片，專業用于X射(she)線(xian)測(ce)厚(hou)(hou)儀（膜厚(hou)(hou)儀）在測(ce)金屬鍍(du)層厚(hou)(hou)度時進(jin)行的儀器標準化校(xiao)準及建(jian)立測(ce)量分析檔案(an)。

銅 Cu 1μm 膜厚標(biao)準片測厚儀標(biao)準片又名膜厚儀校準片：

專業用于X射(she)線測厚儀（膜(mo)(mo)厚儀）在測金屬(shu)鍍層厚度時進行的(de)(de)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)化(hua)校準(zhun)(zhun)及建立(li)測試檔案。也就是(shi)我們在膜(mo)(mo)厚測試中常用的(de)(de)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)曲線法，是(shi)測量已知(zhi)厚度或(huo)組成(cheng)的(de)(de)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)樣(yang)品，根據熒光X-射(she)線的(de)(de)能(neng)量強度及相應(ying)鍍層厚度的(de)(de)對(dui)應(ying)關系，來得到標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)曲線，之后(hou)以(yi)此(ci)標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)曲線來測量未知(zhi)樣(yang)品，以(yi)得到鍍層厚度或(huo)組成(cheng)比率。

對于PCB、五金(jin)電鍍(du)和半導(dao)體等行業使用測(ce)厚儀來檢(jian)測(ce)品質和控制成本起到了很重(zhong)要的(de)作用。