美國Calmetrics純元素標準片Pt 鉑無限厚標(biao)(biao)準(zhun)片是(shi)用來為(wei)膜(mo)厚(hou)測試(shi)儀建(jian)立(li)標(biao)(biao)準(zhun)檔案的(de)(de)，同(tong)時(shi)也是(shi)檢驗和校(xiao)準(zhun)膜(mo)厚(hou)測試(shi)儀測試(shi)數據是(shi)否準(zhun)確的(de)(de)為(wei)一(yi)標(biao)(biao)準(zhun)。它屬于(yu)易損易耗件(jian)，但是(shi)其(qi)的(de)(de)使(shi)用壽(shou)命(ming)卻與操作方法及存(cun)放環境息息相關，若操作得(de)當，小心保護且存(cun)放在干(gan)燥密封的(de)(de)皿器內，那么可(ke)大大延長(chang)其(qi)的(de)(de)使(shi)用時(shi)間。膜(mo)厚(hou)標(biao)(biao)準(zhun)片是(shi)膜(mo)厚(hou)測試(shi)儀（X射線(xian)鍍層測厚(hou)儀）*的(de)(de)。

美國Calmetrics純元素標準片Pt 鉑無限厚實物圖片：

美國(guo)(guo)(guo)Calmetrics公(gong)司專業(ye)生(sheng)產X射線熒光鍍層薄膜標(biao)(biao)準(zhun)件及(ji)元素(su)含量標(biao)(biao)準(zhun)件，提供對標(biao)(biao)準(zhun)件的校準(zhun)服務(wu)，公(gong)司通過ISO/IEC 17025認證。公(gong)司提供所有證書(shu)符(fu)合NIST（National Institute of Standards and Technology美國(guo)(guo)(guo)國(guo)(guo)(guo)家標(biao)(biao)準(zhun)與技(ji)術研究院）標(biao)(biao)準(zhun)或(huo)ANSI（American National Standards Institute美國(guo)(guo)(guo)國(guo)(guo)(guo)家標(biao)(biao)準(zhun)學會(hui)）標(biao)(biao)準(zhun)。其生(sheng)產的標(biao)(biao)準(zhun)片質量精良(liang)，精度高、穩定性好。

Calmetrics鍍層標準片(pian)適用(yong)于費(fei)希爾Fischer、韓(han)國(guo)ISP、日立Hitachi（包括：牛津儀(yi)器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微先(xian)鋒Micro Pioneer、島津、電測(ce)、納(na)優、天瑞、華唯等各廠牌(pai)的測(ce)厚儀(yi)。

X射線(xian)測(ce)厚儀鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)標準片(pian)(pian)一般分為單鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)，雙(shuang)鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)、多鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)、合(he)金鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)、化(hua)學鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)片(pian)(pian)。如：單鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Au/xx，雙(shuang)鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Ni/xx，三鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Pd/Ni/xx，合(he)金鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Sn-Pb/xx，合(he)金鍍(du)(du)(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)(ceng)：Ni-P/xx。

鍍層標(biao)準片(pian)適用于X射線類儀(yi)器的(de)標(biao)準。市面上絕大多部分的(de)手持式熒光儀(yi)的(de)厚度標(biao)準件都來(lai)自(zi)于美國(guo)Calmetrics公(gong)司(si)。

X射(she)線標準(zhun)片又叫膜厚儀校準(zhun)片或者薄膜片，專業用于X射(she)線測(ce)厚儀（膜厚儀）在測(ce)金屬鍍(du)層厚度時進行的儀器(qi)標準(zhun)化校準(zhun)及(ji)建立(li)測(ce)量分析檔案。

銅 Cu 1μm 膜厚(hou)標(biao)準片測(ce)厚(hou)儀(yi)標(biao)準片又(you)名膜厚(hou)儀(yi)校準片：

專業用于X射(she)線(xian)測厚(hou)儀（膜厚(hou)儀）在測金屬(shu)鍍(du)(du)層(ceng)厚(hou)度時進(jin)行的(de)標(biao)(biao)準化校準及建立測試(shi)檔(dang)案。也就(jiu)是我們在膜厚(hou)測試(shi)中常用的(de)標(biao)(biao)準曲線(xian)法，是測量已知厚(hou)度或組成(cheng)(cheng)的(de)標(biao)(biao)準樣(yang)品(pin)，根據熒光X-射(she)線(xian)的(de)能量強度及相(xiang)應鍍(du)(du)層(ceng)厚(hou)度的(de)對應關系(xi)，來得(de)到標(biao)(biao)準曲線(xian)，之后以此標(biao)(biao)準曲線(xian)來測量未知樣(yang)品(pin)，以得(de)到鍍(du)(du)層(ceng)厚(hou)度或組成(cheng)(cheng)比率。

對(dui)于PCB、五(wu)金電鍍和(he)半導體等行業使用(yong)測厚儀(yi)來檢測品質和(he)控(kong)制成本(ben)起到了很重要的作用(yong)。