美國Calmetrics純元素標準片Pb無限厚標準片(pian)(pian)是(shi)(shi)(shi)用(yong)來為膜(mo)厚測試(shi)儀(yi)(yi)建立標準檔案的(de)，同(tong)時也是(shi)(shi)(shi)檢(jian)驗(yan)和校(xiao)準膜(mo)厚測試(shi)儀(yi)(yi)測試(shi)數據是(shi)(shi)(shi)否準確的(de)為一標準。它屬于易(yi)損易(yi)耗件，但(dan)是(shi)(shi)(shi)其的(de)使(shi)用(yong)壽命卻與操作方法及存放環境息息相關，若操作得(de)當，小(xiao)心保(bao)護且存放在干燥(zao)密封的(de)皿器內，那(nei)么可大大延長其的(de)使(shi)用(yong)時間(jian)。膜(mo)厚標準片(pian)(pian)是(shi)(shi)(shi)膜(mo)厚測試(shi)儀(yi)(yi)（X射線鍍(du)層(ceng)測厚儀(yi)(yi)）*的(de)。

美國Calmetrics純元素標準片Pb無限厚實物圖片：

美(mei)國(guo)Calmetrics公(gong)司專(zhuan)業生產(chan)X射線熒(ying)光(guang)鍍層薄膜標(biao)準(zhun)件(jian)及元素含量標(biao)準(zhun)件(jian)，提(ti)供對(dui)標(biao)準(zhun)件(jian)的校準(zhun)服務，公(gong)司通過(guo)ISO/IEC 17025認(ren)證。公(gong)司提(ti)供所有證書符合NIST（National Institute of Standards and Technology美(mei)國(guo)國(guo)家標(biao)準(zhun)與(yu)技術(shu)研究院）標(biao)準(zhun)或ANSI（American National Standards Institute美(mei)國(guo)國(guo)家標(biao)準(zhun)學會）標(biao)準(zhun)。其生產(chan)的標(biao)準(zhun)片質量精(jing)良，精(jing)度高、穩定性好。

Calmetrics鍍(du)層(ceng)標準(zhun)片適(shi)用于費希爾Fischer、韓國(guo)ISP、日立Hitachi（包括：牛津儀(yi)器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微(wei)先鋒Micro Pioneer、島津、電測(ce)、納優、天瑞、華唯等各(ge)廠(chang)牌的測(ce)厚儀(yi)。

X射(she)線測厚儀鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)標準片一般分為(wei)單鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片，雙鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片、多鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片、合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片、化學鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)片。如：單鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Au/xx，雙鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Ni/xx，三鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Au/Pd/Ni/xx，合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Sn-Pb/xx，合金(jin)鍍(du)(du)層(ceng)(ceng)(ceng)：Ni-P/xx。

鍍層標準(zhun)(zhun)片適用(yong)于X射線類儀器(qi)的標準(zhun)(zhun)。市面上絕大多(duo)部(bu)分的手(shou)持式熒(ying)光儀的厚(hou)度標準(zhun)(zhun)件都來自于美國Calmetrics公司(si)。

X射線(xian)(xian)標(biao)準(zhun)片又叫膜(mo)厚儀(yi)校(xiao)準(zhun)片或者薄膜(mo)片，專(zhuan)業用于X射線(xian)(xian)測(ce)厚儀(yi)（膜(mo)厚儀(yi)）在測(ce)金屬鍍層(ceng)厚度時進行的儀(yi)器(qi)標(biao)準(zhun)化校(xiao)準(zhun)及(ji)建立測(ce)量分析檔案。

銅 Cu 1μm 膜(mo)厚標(biao)準(zhun)片測厚儀標(biao)準(zhun)片又名膜(mo)厚儀校準(zhun)片：

專業用于X射線(xian)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀（膜厚(hou)儀）在測(ce)(ce)(ce)金屬鍍層厚(hou)度時進行的標準(zhun)(zhun)化校準(zhun)(zhun)及建(jian)立測(ce)(ce)(ce)試檔案。也就是我們在膜厚(hou)測(ce)(ce)(ce)試中常(chang)用的標準(zhun)(zhun)曲線(xian)法，是測(ce)(ce)(ce)量(liang)已知厚(hou)度或(huo)組成(cheng)的標準(zhun)(zhun)樣品(pin)，根據(ju)熒(ying)光(guang)X-射線(xian)的能(neng)量(liang)強(qiang)度及相應(ying)鍍層厚(hou)度的對(dui)應(ying)關系，來得到標準(zhun)(zhun)曲線(xian)，之后以(yi)此標準(zhun)(zhun)曲線(xian)來測(ce)(ce)(ce)量(liang)未知樣品(pin)，以(yi)得到鍍層厚(hou)度或(huo)組成(cheng)比率(lv)。

對于PCB、五金電鍍和(he)半導體等行(xing)業使用測(ce)(ce)厚儀來(lai)檢測(ce)(ce)品質和(he)控制成本起到了很重要的作(zuo)用。