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美國Calmetrics Sn/xx 鍍層標準片

簡要描述：

美國Calmetrics Sn/xx 鍍(du)層標(biao)準(zhun)片精度高，均(jun)勻性好(hao)，在電(dian)鍍(du)行業中一直作(zuo)為厚度的(de)統一標(biao)準(zhun)而得(de)到大量的(de)使用(yong)(yong)，對(dui)于PCB、五金(jin)電(dian)鍍(du)和(he)半導體等(deng)行業使用(yong)(yong)測(ce)厚儀(yi)來檢(jian)測(ce)品質和(he)控制成(cheng)本起到了(le)很(hen)重要的(de)作(zuo)用(yong)(yong)。用(yong)(yong)于標(biao)定(ding)X射線測(ce)厚儀(yi)

更新時間：2023-04-24

品牌Calmetrics/美國貨號HxSN/xx
規格Sn/xx供貨周期現貨
主要用途標定X射線測厚儀應用領域環保,化工,能源,電子
品牌美國CALMETRICS
美國Calmetrics Sn/xx 鍍層標準片簡介：
Calmetrics是美國原廠制作標準片的專業認證公司，其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產制作標準樣品。
美國Calmetrics公司專業生產X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件，提供對標準件的校準服務，公司通過ISO/IEC17025認證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院)標準或ANSI (American National Standards Institute美國國家標準學會)標準。
其生產的標準片質量精良，精度高、穩定性好。 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
標準片分單層標準片、雙層標準片、多層標準片，其中單層標準片又可分為單元素標準片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標準片、合金薄片、合金鍍在底材上等。可根據客戶個性化需要定制。所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片，并附有標準片厚度值證書。
美國Calmetrics Sn/xx 鍍層標準片用于標定X射線測厚儀
Calmetrics鍍層標準片適用于各種品牌的X射線測厚儀(涂鍍層厚度測試儀)，例如：Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)。
規格列表：
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元素厚度可定制！！！



 

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