漂亮人妻洗澡被公强 日日躁_人喾交性专区免费看_宝贝乖女你的奶真大水真多小芳_国产成人精品无码免费播放

產品分類
您現在的位置:首頁 > 產品展示 > X射線熒光光譜儀 > X射線鍍層測厚儀 > iEDX-150WTX射線熒光光譜鍍層厚度分析儀

X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀

簡要描述:

X射(she)線熒(ying)光(guang)光(guang)譜鍍層(ceng)厚度(du)分(fen)(fen)析儀,1.鍍層(ceng)檢測,多鍍層(ceng)檢測可(ke)達5層(ceng),精度(du)及穩定(ding)性高。2.平臺(tai)尺(chi)寸(cun):620*525mm,樣(yang)(yang)品(pin)移動(dong)距(ju)離可(ke)達220*220*10mm。(固(gu)定(ding)臺(tai)可(ke)選)3.激光(guang)定(ding)位和自(zi)動(dong)多點測量功能。4.可(ke)檢測固(gu)體、粉末狀(zhuang)態材料。5.運行及維護成(cheng)本低、無(wu)易損易耗品(pin),對使用(yong)環境(jing)相對要(yao)求(qiu)低。6.可(ke)進行未(wei)知標樣(yang)(yang)掃描、無(wu)標樣(yang)(yang)定(ding)性,半定(ding)量分(fen)(fen)析。

更新(xin)時間:2023-04-24

品牌ISP/韓國價格區間20萬-50萬
產地類別進口應用領域環保,化工,電子

X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀產品概述:

產品(pin)類型(xing):能量(liang)色散X熒光光譜分析設備(bei)

產品名(ming)稱:鍍層厚度測試儀

型    號:iEDX-150WT

生 產 商:韓國ISP公(gong)司

**地區戰略合作伙伴:廣(guang)州鴻(hong)熙(xi)電子科技有(you)限(xian)公司

產品圖片:

X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀iEDX-150WT

工作條件

●工(gong)作(zuo)溫度:15-30℃

●電源(yuan):AC: 110/220VAC 50-60Hz

●相對濕度(du):<70%,無結露(lu)

●功率:150W + 550W


產品優勢及特征

(一)產品優勢

鍍層檢測,多鍍層檢測可(ke)達5層,精度及穩定(ding)性高(gao)(見以(yi)下產品(pin)特征詳述)。

平臺(tai)(tai)尺寸:620*525mm,樣(yang)品移動(dong)距離可達220*220*10mm。(固(gu)定臺(tai)(tai)可選)

激光(guang)定位和(he)自動(dong)多(duo)點測量功(gong)能。

可檢(jian)測(ce)固體、粉末(mo)狀態材料。

運行及維護(hu)成本低、無易損易耗品,對使用(yong)環(huan)境相對要(yao)求低。

可進行未知標(biao)樣掃描(miao)、無標(biao)樣定(ding)性,半(ban)定(ding)量分析。

操作(zuo)簡(jian)單、易學易懂、無損、高(gao)品(pin)質、高(gao)性能、高(gao)穩定性,快(kuai)速(su)出檢測結果(guo)。

可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

軟件*升級。

無損檢(jian)測,一(yi)次性購買標(biao)樣可使用(yong)。

使用(yong)安心(xin)無憂,售(shou)后服務(wu)響(xiang)應時間(jian)24H以內,提(ti)供保姆式服務(wu)。

可以遠程操作(zuo),解決客戶使用(yong)中的后(hou)顧之憂(you)。

可進行RoHS檢測(選配功能(neng)),測試RoHS指令中(zhong)的(de)鉛、汞、鎘、鉻、鋇(bei)、銻(ti)、硒、砷等重金屬,測試無鹵素(su)(su)指令中(zhong)的(de)溴、氯等有害元素(su)(su)。亦可對(dui)成分進行分析。

(二)產品特征

高(gao)性能高(gao)精(jing)度X熒光(guang)光(guang)譜儀(XRF)

計(ji)算機(ji) / MCA(多通(tong)道(dao)分(fen)析儀)

2048通(tong)道逐次(ci)近似計(ji)算法(fa)ADC(模(mo)擬數字轉換(huan)器)。

Multi Ray. 運用(yong)基本參(can)數(shu)(FP)軟件,通過簡單的(de)三(san)步進行(xing)無(wu)標樣標定,使用(yong)基礎參(can)數(shu)計算方法,對樣品進行(xing)的(de)鍍層厚度(du)分析。

可(ke)以增加RoHS檢測(ce)功能。

MTFFP (多層薄(bo)膜基本參數法) 模塊進(jin)行鍍層厚(hou)度及(ji)全元(yuan)素(su)分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模(mo)式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄(bo)鍍層(ceng)厚度測量

相對(比)模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

測試能力(基本配置(zhi):PIN探(tan)測器(qi)+0.3準(zhun)直器(qi))

當化(hua)金厚度在2u〞-5u〞時,測(ce)量時間(jian)為40S

準確度規格 ±5%

度規格<5%(COV變(bian)動率(lv))

當化金厚度(du) >5u〞時,測量時間為40S

準確度規格 ±5%

度規格<5%(COV變(bian)動率)

當(dang)化(hua)銀(yin)厚度在5u〞-15u〞時,測(ce)量時間為40S

準確度規格 ±8%

度規格<7%(COV變動(dong)率(lv))

測化錫時(shi),測量時(shi)間為40S

準確度規格(ge) ±8%

度(du)規格<6% (COV變(bian)動率)

準確度(du)公(gong)式:準確度(du)百分比(bi)=(測試10次的(de)平均值-真值)/真值*100%

度COV公(gong)式: (S/10次平均值)*100%

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件(jian)操作系(xi)統(tong)

完整的統(tong)計函數均值、 標(biao)準差、 低/高讀(du)數,趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等(deng)

自動(dong)(dong)移動(dong)(dong)平臺,用(yong)戶使(shi)用(yong)預先(xian)設定(ding)好的程序進行(xing)自動(dong)(dong)樣品測(ce)量(liang)。大(da)測(ce)量(liang)點數(shu)量(liang) = 每(mei)9999 每(mei)個階段(duan)文(wen)件(jian)。每(mei)個階段(duan)的文(wen)件(jian)有多 25 個不同(tong)應用(yong)程序。特殊工具(ju)如"線掃描(miao)"和(he)"格柵"。每(mei)個階段(duan)文(wen)件(jian)包含*統計軟件(jian)包。包括自動(dong)(dong)對焦功能、方(fang)便加載函數(shu)、瞄準樣品和(he)拍攝、激光(guang)定(ding)位(wei)和(he)自動(dong)(dong)多點測(ce)量(liang)功能。

X射線管:高穩(wen)定性X光(guang)光(guang)管,使用壽(shou)命(工作時間(jian)>18,000小時)

微焦(jiao)點X射線管(guan)、Mo (鉬) 靶

鈹窗口, 陽極(ji)焦(jiao)斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全(quan)電子(zi)管屏蔽(bi)。

50kV,1mA。高壓和(he)電流設定為應用程序(xu)提供性能。

探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)

能量分(fen)辨率(lv):125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

濾光片/可選

初(chu)級(ji)濾光(guang)片:Al濾光(guang)片,自動切換

7個準直(zhi)(zhi)器(qi)(qi):客戶可選準直(zhi)(zhi)器(qi)(qi)尺寸或定制(zhi)特殊尺寸準直(zhi)(zhi)器(qi)(qi)。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

平臺(tai):軟件程序控制(zhi)步進(jin)式(shi)電機驅(qu)動(dong)X-Y軸移動(dong)大樣品(pin)平臺(tai)。

激光定位(wei)、簡易荷載(zai)大負載(zai)量為5公斤

軟件控制程序進行持續性自動測量

樣品定位:顯(xian)示屏上顯(xian)示樣品鎖(suo)定、簡易(yi)荷載(zai)、激光定位及拍(pai)照功能(neng)

分析譜線:

- 2048通道逐次近似(si)計算法ADC(模擬(ni)數字轉換)

- 基點改(gai)正(zheng)(基線本(ben)底校正(zheng))

- 密度校正

- Multi-Ray軟(ruan)件包含元素ROI及測量讀數自動顯示

視(shi)頻系(xi)統:高分辨率CCD攝像頭、彩(cai)色視(shi)頻系(xi)統

- 觀察(cha)范圍:3mm x 3mm

- 放大(da)倍數:40X

- 照明方(fang)法:上照式

- 軟件(jian)控制取得高真圖像

計算機、打印(yin)機(贈送)

含計算機(ji)、顯示(shi)器、打(da)印機(ji)、鍵(jian)盤、鼠標

含Win 7/Win 10系統。

Multi-Ray鍍層分(fen)析軟件

注:設備需要配(pei)備穩(wen)壓器,需另(ling)計。

產品配(pei)置及技術指(zhi)標說(shuo)明

u 測(ce)量原理:能量色散X射線分(fen)析

u 樣品類型:固體/粉末(mo)

u X射線光管:50KV,1mA

u過濾器(qi):5過濾器(qi)自動轉換

u檢測系統:Pin探測器(可選SDD)

u能量(liang)分(fen)辨率(lv):159eV(SDD:125eV)

u檢(jian)測元素范圍:Al (13) ~ U(92)

u準(zhun)直器孔(kong)徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)

u應用程序語(yu)言:韓/英/中

u分析方法(fa):FP/校準曲線(xian),吸收,熒(ying)光

u儀(yi)器尺寸:840*613*385mm

u樣品(pin)移動距離:220*220*10 mm(自動臺)






留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿(a)拉伯數(shu)字),如(ru):三加四=7
客戶至上 用心服務
在線客服