產品概述

產品類型：能量色散X熒光光譜(pu)分析設備

產品(pin)名稱：鍍(du)層(ceng)厚度測(ce)試儀

型    號(hao)：iEDX-150T

生 產 商：韓(han)國ISP公(gong)司(si)

亞太地區戰略合作伙伴：廣州(zhou)鴻熙電子科技(ji)有限公司(si)

產品圖片：

X射線熒光光譜鍍層厚度測試儀iEDX-150T

產品優勢及特征

（一）產品優勢

鍍層(ceng)檢測，多鍍層(ceng)檢測可達5層(ceng)，精度(du)及穩定性可控制在+/-5%內。

儀器尺寸(cun)：618*525*490mm，樣品臺移動(dong)距離(li)：160*150*90mm。

激光(guang)定位和(he)自動多(duo)點測量(liang)功能。

可檢測固(gu)體、粉(fen)末狀態材料。

運行及維護成本低、無(wu)易(yi)損(sun)易(yi)耗品(pin)，對(dui)使用環境(jing)相(xiang)對(dui)要求低。

可(ke)進行未知標(biao)樣掃描、無(wu)標(biao)樣定(ding)性(xing)，半定(ding)量(liang)分析。

操作簡單、易學易懂、無損、高品質、高性能、高穩定性，快速出檢測(ce)結(jie)果。

可針對客戶(hu)個性化要求量(liang)身定做輔助(zhu)分析配置硬件(jian)。

軟件*升級。

無(wu)損檢測，一次性購買標樣可使用。

使(shi)用安心無憂，售后服務響應時(shi)間(jian)24H以內，提供保姆式服務。

可以(yi)遠程操作，解決客(ke)戶(hu)使用中的后(hou)顧之憂。

可進行RoHS檢測(ce)（選配功能），測(ce)試RoHS指令(ling)中(zhong)的(de)鉛、汞、鎘(ge)、鉻、鋇、銻、硒、砷(shen)等重金屬，測(ce)試無鹵素(su)指令(ling)中(zhong)的(de)溴、氯等有(you)害(hai)元素(su)。亦可對成分進行分析(xi)。

（二）產品特征

高(gao)性能高(gao)精度X熒光(guang)光(guang)譜儀（XRF）

計(ji)算機(ji) / MCA(多通(tong)道分析儀)

2048通(tong)道(dao)逐次近似(si)計算(suan)法ADC（模擬數字(zi)轉換(huan)器）。

Multi Ray. 運用基(ji)本參數(shu)（FP）軟(ruan)件，通過簡(jian)單的三步進行(xing)無標樣(yang)標定，使用基(ji)礎參數(shu)計算方法，對樣(yang)品進行(xing)的鍍(du)層厚度分(fen)析，可以增(zeng)加RoHS檢測功(gong)能。

MTFFP (多層薄膜(mo)基本參數法) 模(mo)塊進(jin)行鍍層厚度(du)及全元素分析

勵磁(ci)模(mo)式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線(xian)性(xing)模式進行(xing)薄鍍層厚(hou)度測量(liang)

相對（比）模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

單鍍(du)層應用(yong) [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應(ying)用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等(deng)]

合金鍍(du)層(ceng)應 [如：Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

Smart-Ray. 快速、簡單的定性分(fen)析(xi)的軟件模塊。可同(tong)時分(fen)析(xi)20種元(yuan)素。半定量分(fen)析(xi)頻譜比較(jiao)、減法運算和配(pei)給。

Smart-Ray. 金屬行業X射線熒光光譜鍍層厚度測試儀定量分(fen)(fen)(fen)析(xi)軟件。可一次性分(fen)(fen)(fen)析(xi)25種(zhong)元素(su)。小二乘法計(ji)算(suan)峰值反卷積。采用(yong)盧卡斯-圖思(si)計(ji)算(suan)方法進行(xing)矩陣校正及內部元素(su)作(zuo)用(yong)分(fen)(fen)(fen)析(xi)。金(jin)屬(shu)分(fen)(fen)(fen)析(xi)精度可達+ /-0.02%，貴金(jin)屬(shu)（8-24 Karat) 分(fen)(fen)(fen)析(xi)精度可達+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、內部元素、矩陣校正(zheng)模塊。

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系(xi)統

完整的統(tong)計(ji)函數(shu)均值、 標準差、 低(di)/高(gao)讀(du)數(shu)，趨勢線(xian)，Cp 和 Cpk 因(yin)素等(deng)

自動(dong)移(yi)動(dong)平臺(tai)，用戶(hu)使用預先設(she)定(ding)好的程(cheng)(cheng)序(xu)進(jin)行自動(dong)樣(yang)品測(ce)量(liang)。大測(ce)量(liang)點數(shu)(shu)量(liang) = 每9999 每個階(jie)(jie)段(duan)文(wen)件。每個階(jie)(jie)段(duan)的文(wen)件有多 25 個不同應用程(cheng)(cheng)序(xu)。特殊工具如"線(xian)掃描"和(he)"格(ge)柵(zha)"。每個階(jie)(jie)段(duan)文(wen)件包(bao)含*統計軟(ruan)件包(bao)。包(bao)括自動(dong)對焦功能、方(fang)便加載函數(shu)(shu)、瞄準樣(yang)品和(he)拍攝、激光(guang)定(ding)位和(he)自動(dong)多點測(ce)量(liang)功能。

產品配置及技(ji)術指標說明

X射(she)線管(guan)：高穩定性X光光管(guan)，使用壽命（工作時(shi)間>18,000小(xiao)時(shi)）

微焦點X射線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口， 陽極焦斑尺寸75um，油(you)絕(jue)緣，氣(qi)冷式，輻射(she)安全電子管屏(ping)蔽。

50kV，1mA。高壓和電流(liu)設定為應用程序提(ti)供性能。

探測(ce)器：SDD 探測(ce)器（可選Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

濾光片/可選

初級濾光片：Al濾光片，自動切換

7個準直(zhi)(zhi)器(qi)：客戶(hu)可選(xuan)準直(zhi)(zhi)器(qi)尺寸或定制特殊(shu)尺寸準直(zhi)(zhi)器(qi)。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

平臺：軟件程序控制(zhi)步進(jin)式(shi)電機驅動(dong)X-Y軸移動(dong)大樣品平臺。

激光定位(wei)、簡易荷載大負載量為5公(gong)斤

軟件控制程(cheng)序(xu)進行持續(xu)性自動測量

樣(yang)品(pin)定(ding)位(wei)：顯示(shi)屏上顯示(shi)樣(yang)品(pin)鎖定(ding)、簡易荷(he)載、激光定(ding)位(wei)及拍(pai)照功(gong)能

分析譜線：

- 2048通道逐次(ci)近似計(ji)算法ADC（模(mo)擬數字轉換）

- 基(ji)點改正（基(ji)線本底校正）

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測(ce)量讀數自動顯示

視(shi)頻系(xi)統(tong)：高分(fen)辨(bian)率(lv)CCD攝像頭、彩色視(shi)頻系(xi)統(tong)

- 觀察(cha)范圍：3mm x 3mm

- 放大倍數(shu)：40X

- 照明方法：上(shang)照式

- 軟(ruan)件控(kong)制取得高真圖像

計算機、打印機（贈送）

含計算(suan)機、顯示器、打印機、鍵(jian)盤、鼠標

含(han)Win 7/Win 10系(xi)統。

Multi-Ray鍍層分(fen)析軟件

注：設備需要(yao)配備穩壓器(qi)，需另計(ji)。