廣(guang)州鴻熙電子科技有限公(gong)司(si)于2013年(nian)7月13日(ri)成立。公(gong)司(si)位于珠(zhu)三角(jiao)交通樞紐廣(guang)州市增城(cheng)區新塘鎮(zhen)。創始(shi)人在著名跨國(guo)科研(yan)儀(yi)器公(gong)司(si)任職(zhi)逾12年(nian),對科研(yan)儀(yi)器行業有非常(chang)豐富的(de)經驗(yan)。廣(guang)州鴻熙電子科技有限公(gong)司(si)是韓國(guo)ISP和中國(guo)善時儀(yi)器(Sense)的(de)戰略合(he)作伙伴。膜厚(hou)(hou)儀(yi)iEDX-150WT,產品類型:能量色散X熒光(guang)光(guang)譜分析設備(bei) 產品名稱:膜厚(hou)(hou)儀(yi);型 號:iEDX-150WT生 產 商(shang):韓國(guo)ISP公(gong)司(si)
更新時間(jian):2023-04-24
品牌 | ISP/韓國 | 價格區間 | 20萬-50萬 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,化工,地礦,能源,電子 |
公司介紹
廣(guang)州鴻(hong)熙電子科技有(you)限公司于(yu)(yu)2013年7月13日成立。公司位于(yu)(yu)珠三(san)角交通樞紐廣(guang)州市增城區新塘(tang)鎮(zhen)。創始人在著名(ming)跨(kua)國科研儀器公司任職(zhi)逾12年,對科研(yan)儀器(qi)行業有非常豐富的經驗。
公司的分(fen)析光(guang)譜儀,集鍍層厚度、金屬(shu)成份分(fen)析、RoHS檢測于一體(ti),具備*的性價比。產品廣泛應用于電(dian)子制造、礦山、化工、金銀首飾、冶煉及金屬加工、機械等行業(ye),對企業(ye)(ye)產品(pin)品(pin)質檢(jian)測(ce)、成本控制、生產效率的(de)提高有著(zhu)*的(de)經濟價值。經過大(da)量環境試驗、生物實驗及(ji)相關檢(jian)測(ce)實驗中心(xin)的(de)數據驗證,本公(gong)司所(suo)生產的(de)分(fen)析光(guang)譜(pu)儀的(de)度及(ji)性(xing)能(neng)居同行業(ye)(ye)地位(wei)。
公司研(yan)發隊伍強勁,并與韓(han)國(guo)X射線研(yan)究所、美國(guo)密西根(gen)大學光譜領域專(zhuan)家、清華大學(xue)精密(mi)儀器系教授(shou)攜手合作,以歐(ou)美(mei)現有技術為基礎(chu),在X射線光(guang)譜儀核心技術上取得重(zhong)大突破的(de)同(tong)時,還擁有40多項(xiang)*的技術和差異(yi)化產品,多項核心技術(shu)處于水平(ping)。公司與韓國ISP的合作產品(pin)在中國大陸主(zhu)要以客戶為主(zhu),其(qi)以優質的性價比獲(huo)得了客戶的*。
膜厚儀產品優勢及特征
(一)產品優勢
1. 鍍層(ceng)檢測,多鍍層(ceng)檢測可達5層(ceng),精(jing)度及穩定性高(見以(yi)下產品特征詳(xiang)述)。
2. 平臺尺寸:620*525mm,樣品(pin)移(yi)動距離可達(da)220*220*10mm。(固定臺(tai)可選)
3. 激光定位和自動多點測量(liang)功能。
(二)產品特征
2048通道逐次(ci)近似計算法ADC(模擬(ni)數字轉換器)。
可以增加RoHS檢(jian)測功能(neng)。
勵磁(ci)模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式(shi) 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模(mo)式進行薄鍍層厚度測量
相(xiang)對(比)模式 無焦點測(ce)量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層(ceng)厚度同時測量
當化金厚(hou)度在2u〞-5u〞時,測量時間為40S
準確(que)度(du)規格 ±5%
度規(gui)格 <5%(COV變(bian)動率)
當化(hua)金厚度 >5u〞時,測量時間為40S
準確度規格 ±5%
度規格 <5%(COV變動率)
當化銀(yin)厚度在5u〞-15u〞時(shi),測量時(shi)間為40S
準確度規(gui)格 ±8%
度規格 <7%(COV變動率)
測化錫時(shi),測量時(shi)間為(wei)40S
準確(que)度規格(ge) ±8%
度規(gui)格 <6% (COV變(bian)動率)
準確度公式:準確度百分比=(測試(shi)10次的平均值-真(zhen)值)/真(zhen)值*100%
度(du)COV公(gong)式(shi): (S/10次平均值)*100%
膜厚儀產品配置及技術指標說明
u 測(ce)量原理:能(neng)量色散X射線分析 | u 樣(yang)品類型:固體/粉末(mo) |
u X射線光(guang)管:50KV,1mA | u過濾器:5過濾器自動轉(zhuan)換 |
u檢測系(xi)統:Pin探(tan)測器(qi)(可選SDD) | u能量分辨率:159eV(SDD:125eV) |
u檢測元素(su)范(fan)圍:Al (13) ~ U(92) | u準(zhun)直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應用程序語言:韓(han)/英/中 | u分析方法:FP/校準曲(qu)線,吸收,熒光(guang) |
u儀(yi)器尺寸(cun):840*613*385mm | u樣品(pin)移動距離:220*220*10 mm(自動臺(tai)) |
1. X射線管:高穩定性(xing)X光(guang)光(guang)管,使用壽(shou)命(ming)(工作時間>18,000小時)
微焦點X射線管、Mo (鉬(mu)) 靶(ba)
鈹窗口(kou), 陽極(ji)焦斑尺寸75um,油(you)絕緣,氣(qi)冷式(shi),輻射安(an)全電子(zi)管屏蔽(bi)。
50kV,1mA。高壓和電流設(she)定(ding)為應用程序提供性能。
能量(liang)分(fen)辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
初級濾光片(pian):Al濾光片(pian),自動切換
7個準直(zhi)器:客戶可選準直(zhi)器尺寸或(huo)定(ding)制特(te)殊尺寸準直(zhi)器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
6. 分析(xi)譜線:
- 2048通道(dao)逐次近似(si)計算法ADC(模(mo)擬數(shu)字轉(zhuan)換)
- 基點改正(zheng)(基線本底校正(zheng))
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數自動顯(xian)示
7.視頻(pin)系(xi)統:高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻(pin)系(xi)統
- 觀察范圍:3mm x 3mm
- 放大倍數:40X
- 照明方法:上照式
- 軟件控制取得高(gao)真圖像
8. 計算機、打印(yin)機(贈(zeng)送)
注:設備(bei)需要配備(bei)穩壓器,需另(ling)計。
地址:廣州市增城區新塘鎮廣深大道西23號東寧辦公樓5樓 傳真:020-82455303 技術支持:化工儀器網 管理登陸 備案號: GoogleSitemap
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