X射線光譜儀校準片專業用(yong)(yong)于X射(she)線(xian)(xian)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀（膜厚(hou)(hou)(hou)儀）在測(ce)金屬鍍(du)(du)層厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)(du)時進行的(de)標準(zhun)化校(xiao)準(zhun)及建立(li)測(ce)試檔案。也就是(shi)我(wo)們在膜厚(hou)(hou)(hou)測(ce)試中常用(yong)(yong)的(de)標準(zhun)曲(qu)線(xian)(xian)法(fa)，是(shi)測(ce)量已知厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)(du)或組成(cheng)的(de)標準(zhun)樣品，根據熒光X-射(she)線(xian)(xian)的(de)能量強(qiang)度(du)(du)(du)及相應鍍(du)(du)層厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)(du)的(de)對應關系，來(lai)得到(dao)(dao)(dao)標準(zhun)曲(qu)線(xian)(xian)。以此(ci)標準(zhun)曲(qu)線(xian)(xian)來(lai)測(ce)量鍍(du)(du)層樣品，以得到(dao)(dao)(dao)鍍(du)(du)層厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)(du)或組成(cheng)比率。對于PCB、五金電鍍(du)(du)和(he)半導體(ti)等行業使用(yong)(yong)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀來(lai)檢(jian)測(ce)品質和(he)控制成(cheng)本起(qi)到(dao)(dao)(dao)了很(hen)重要的(de)作用(yong)(yong)。

　　X射線光譜儀校準片采用了磁性測(ce)厚法：是(shi)一種超小型(xing)丈(zhang)量(liang)儀，它能快速，無損傷，切確地進行鐵磁性金(jin)屬基(ji)體(ti)上的噴涂。電鍍層厚度的丈(zhang)量(liang)。可普遍用于制造業，金(jin)屬加工(gong)(gong)業，化(hua)工(gong)(gong)業，商檢等檢測(ce)領域。出格適(shi)用于工(gong)(gong)程現場(chang)丈(zhang)量(liang)。

　　X射線熒光光譜儀校準標準片采用(yong)磁(ci)(ci)感應原理時(shi)，利用(yong)從(cong)測(ce)(ce)頭(tou)經過非鐵磁(ci)(ci)覆層(ceng)而(er)流入鐵磁(ci)(ci)基體的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)通的(de)(de)(de)(de)大小(xiao)，來測(ce)(ce)定(ding)覆層(ceng)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)。也(ye)可以(yi)測(ce)(ce)定(ding)與(yu)之(zhi)對應的(de)(de)(de)(de)磁(ci)(ci)阻的(de)(de)(de)(de)大小(xiao)，來表示(shi)其覆層(ceng)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)。覆層(ceng)越厚(hou)，則磁(ci)(ci)阻越大，磁(ci)(ci)通越小(xiao)。利用(yong)磁(ci)(ci)感應原理的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)，原則上可以(yi)有(you)導(dao)(dao)(dao)磁(ci)(ci)基體上的(de)(de)(de)(de)非導(dao)(dao)(dao)磁(ci)(ci)覆層(ceng)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)。如(ru)果(guo)覆層(ceng)材料也(ye)有(you)磁(ci)(ci)性，則要求與(yu)基材的(de)(de)(de)(de)導(dao)(dao)(dao)磁(ci)(ci)率之(zhi)差足夠(gou)大（如(ru)鋼上鍍(du)鎳(nie)）。當軟芯上繞著(zhu)線(xian)圈的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)頭(tou)放在被測(ce)(ce)樣本上時(shi)，儀(yi)器自(zi)動輸出測(ce)(ce)試電(dian)流或測(ce)(ce)試信(xin)號。早(zao)期的(de)(de)(de)(de)產品采用(yong)指針(zhen)式表頭(tou)，測(ce)(ce)量(liang)感應電(dian)動勢的(de)(de)(de)(de)大小(xiao)，儀(yi)器將該信(xin)號放大后來指示(shi)覆層(ceng)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)。近(jin)年來的(de)(de)(de)(de)電(dian)路(lu)設計引入穩頻、鎖相、溫(wen)度(du)(du)(du)(du)補(bu)償等地新技(ji)術，利用(yong)磁(ci)(ci)阻來調制測(ce)(ce)量(liang)信(xin)號。還采用(yong)設計的(de)(de)(de)(de)集成電(dian)路(lu)，引入微(wei)機，使測(ce)(ce)量(liang)精度(du)(du)(du)(du)和重(zhong)現(xian)性有(you)了大幅度(du)(du)(du)(du)的(de)(de)(de)(de)提高（幾(ji)乎達一個數(shu)量(liang)級）。

　　X射線熒光光譜儀校準標準片采用二次熒光法：它的原理是物資經X射線或粒子射線照射后，由于吸收過剩的能量而釀成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物資必需將過剩的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。