鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)厚儀(yi)器對(dui)材料表面保護、裝飾(shi)形成的(de)覆蓋層(ceng)(ceng)(ceng)進(jin)行(xing)厚度(du)測(ce)量(liang)的(de)儀(yi)器,測(ce)量(liang)的(de)對(dui)象包括涂層(ceng)(ceng)(ceng)、鍍(du)層(ceng)(ceng)(ceng)、敷層(ceng)(ceng)(ceng)、貼層(ceng)(ceng)(ceng)、化學生成膜等(deng)。
更新時間:2023-04-24
品牌 | ISP/韓國 | 行業專用類型 | 通用 |
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重復性 | 5% | 能量分辨率 | 125或159eV |
分析含量范圍 | 0.1%-99.9% | 元素分析范圍 | 13(Al)-92(U) |
價格區間 | 10萬-30萬 | 儀器種類 | 臺式/落地式 |
應用領域 | 地礦,電子,冶金,汽車,電氣 |
在(zai)化(hua)工(gong)(gong)、電(dian)子、電(dian)力、金屬等行業中,為了實現(xian)對各類(lei)材(cai)料的(de)(de)保護或(huo)裝飾作用,通常(chang)要采用噴涂、有(you)色金屬覆(fu)蓋以(yi)及(ji)磷化(hua)、陽極(ji)氧化(hua)處理等方(fang)法,這(zhe)樣,便出現(xian)了涂層、鍍層、敷層、貼(tie)層或(huo)化(hua)學(xue)生成膜(mo)等概念,我們稱之為“覆(fu)層"。覆(fu)層的(de)(de)厚(hou)度測(ce)量已成為金屬加工(gong)(gong)工(gong)(gong)業已用戶進行成品(pin)質(zhi)量檢(jian)測(ce)*的(de)(de)zui重要的(de)(de)工(gong)(gong)序。
鍍層測厚儀對材料表面(mian)保(bao)護、裝飾形成的(de)覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)(ceng)進行厚(hou)度測(ce)量的(de)儀(yi)(yi)器,測(ce)量的(de)對象(xiang)包(bao)括涂層(ceng)(ceng)(ceng)、鍍層(ceng)(ceng)(ceng)、敷層(ceng)(ceng)(ceng)、貼層(ceng)(ceng)(ceng)、化學(xue)生成膜等。主要分為(wei)磁性鍍層(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)、電渦(wo)流(liu)鍍層(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi),X射線鍍層(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)三類(lei)測(ce)量方法。
鍍層(ceng)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀采用磁(ci)感應(ying)原理(li)時(shi),利用從(cong)測(ce)(ce)(ce)頭經(jing)過非鐵(tie)磁(ci)覆(fu)(fu)層(ceng)而流(liu)入鐵(tie)磁(ci)基體的磁(ci)通的大(da)小,來測(ce)(ce)(ce)定覆(fu)(fu)層(ceng)厚(hou)度。也可(ke)以測(ce)(ce)(ce)定與(yu)之對應(ying)的磁(ci)阻(zu)的大(da)小,來表示其覆(fu)(fu)層(ceng)厚(hou)度。覆(fu)(fu)層(ceng)越厚(hou),則(ze)磁(ci)阻(zu)越大(da),磁(ci)通越小。利用磁(ci)感應(ying)原理(li)的測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀,原則(ze)上(shang)可(ke)以有導(dao)磁(ci)基體上(shang)的非導(dao)磁(ci)覆(fu)(fu)層(ceng)厚(hou)度。一(yi)般要求基材導(dao)磁(ci)率在(zai)500以上(shang)。
鍍層測厚(hou)儀的產品特點:
1、良(liang)好(hao)的(de)射(she)線屏蔽作用。
2、測試(shi)口高度(du)敏感性傳(chuan)感器保護。
3、高分(fen)(fen)辨率探頭使分(fen)(fen)析(xi)結(jie)果更加精準。
4、滿足各種不(bu)同厚度樣(yang)品以(yi)及不(bu)規則表(biao)面(mian)樣(yang)品的測試需求。
5、φ0.1mm的小孔準(zhun)直器可以滿足(zu)微小測試點的需求。
6、高精(jing)度移動平臺可精(jing)確(que)定位測試點,重(zhong)復定位精(jing)度小于(yu)0.005mm。
7、采用高(gao)(gao)度(du)定位激光,可(ke)自動定位測試高(gao)(gao)度(du)。
8、定(ding)位(wei)激光(guang)確(que)定(ding)定(ding)位(wei)光(guang)斑,確(que)保測試點與光(guang)斑對齊。
9、鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點。
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