金屬元素標準片X射線熒光測厚儀標準樣品專業(ye)用于X射(she)線(xian)(xian)(xian)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀（膜(mo)厚(hou)(hou)(hou)儀）在(zai)測(ce)(ce)金屬鍍層厚(hou)(hou)(hou)度(du)時(shi)進(jin)行(xing)的標(biao)準(zhun)化校準(zhun)及(ji)建(jian)立測(ce)(ce)試(shi)(shi)檔案。也就(jiu)是我們(men)在(zai)膜(mo)厚(hou)(hou)(hou)測(ce)(ce)試(shi)(shi)中常用的標(biao)準(zhun)曲線(xian)(xian)(xian)法，是測(ce)(ce)量已知厚(hou)(hou)(hou)度(du)或組成的標(biao)準(zhun)樣(yang)品(pin)(pin)，根據熒光X-射(she)線(xian)(xian)(xian)的能量強度(du)及(ji)相應(ying)鍍層厚(hou)(hou)(hou)度(du)的對(dui)應(ying)關系，來(lai)得到標(biao)準(zhun)曲線(xian)(xian)(xian)。以此標(biao)準(zhun)曲線(xian)(xian)(xian)來(lai)測(ce)(ce)量鍍層樣(yang)品(pin)(pin)，以得到鍍層厚(hou)(hou)(hou)度(du)或組成比率。對(dui)于PCB、五金電鍍和半(ban)導體等行(xing)業(ye)使用測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀來(lai)檢測(ce)(ce)品(pin)(pin)質和控制成本起到了(le)很重要的作用。

　　膜厚(hou)標(biao)準(zhun)片采用了磁(ci)性(xing)測厚(hou)法：是一(yi)種超小型丈量儀，它(ta)能快速，無損傷，切(qie)確地進(jin)行鐵磁(ci)性(xing)金屬基體上的噴(pen)涂(tu)。電鍍層(ceng)厚(hou)度(du)的丈量。可普(pu)遍用于(yu)制造(zao)業(ye)，金屬加(jia)工(gong)業(ye)，化工(gong)業(ye)，商檢等(deng)檢測領(ling)域。出格適用于(yu)工(gong)程現場丈量。

　　膜厚(hou)標(biao)準片采(cai)用磁(ci)(ci)(ci)感應(ying)原(yuan)理時，利(li)用從測(ce)(ce)頭經過非(fei)鐵磁(ci)(ci)(ci)覆(fu)(fu)層(ceng)而(er)流入鐵磁(ci)(ci)(ci)基(ji)體的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)通的(de)(de)大(da)(da)(da)小(xiao)，來(lai)(lai)測(ce)(ce)定(ding)覆(fu)(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)。也可以測(ce)(ce)定(ding)與之(zhi)對(dui)應(ying)的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)阻的(de)(de)大(da)(da)(da)小(xiao)，來(lai)(lai)表示(shi)其覆(fu)(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)。覆(fu)(fu)層(ceng)越(yue)厚(hou)，則磁(ci)(ci)(ci)阻越(yue)大(da)(da)(da)，磁(ci)(ci)(ci)通越(yue)小(xiao)。利(li)用磁(ci)(ci)(ci)感應(ying)原(yuan)理的(de)(de)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)，原(yuan)則上可以有(you)導磁(ci)(ci)(ci)基(ji)體上的(de)(de)非(fei)導磁(ci)(ci)(ci)覆(fu)(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)。如(ru)果覆(fu)(fu)層(ceng)材料(liao)也有(you)磁(ci)(ci)(ci)性，則要求與基(ji)材的(de)(de)導磁(ci)(ci)(ci)率之(zhi)差足(zu)夠大(da)(da)(da)（如(ru)鋼上鍍鎳(nie)）。當軟芯上繞著線圈(quan)的(de)(de)測(ce)(ce)頭放在被測(ce)(ce)樣(yang)本上時，儀(yi)器(qi)自動(dong)輸(shu)出測(ce)(ce)試(shi)電(dian)(dian)(dian)流或測(ce)(ce)試(shi)信(xin)號(hao)。早期的(de)(de)產品采(cai)用指針式表頭，測(ce)(ce)量(liang)感應(ying)電(dian)(dian)(dian)動(dong)勢的(de)(de)大(da)(da)(da)小(xiao)，儀(yi)器(qi)將該信(xin)號(hao)放大(da)(da)(da)后(hou)來(lai)(lai)指示(shi)覆(fu)(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)。近年(nian)來(lai)(lai)的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)路設(she)計引入穩頻、鎖相、溫度(du)補償等(deng)地新技術，利(li)用磁(ci)(ci)(ci)阻來(lai)(lai)調制測(ce)(ce)量(liang)信(xin)號(hao)。還采(cai)用設(she)計的(de)(de)集成電(dian)(dian)(dian)路，引入微機，使(shi)測(ce)(ce)量(liang)精度(du)和重現性有(you)了大(da)(da)(da)幅度(du)的(de)(de)提高（幾(ji)乎(hu)達一(yi)個數量(liang)級）。

　　金屬元素標準片X射線熒光測厚儀標準樣品采用二次熒光法：它的原理是物資經X射線或粒子射線照射后，由于吸收過剩的能量而釀成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物資必需將過剩的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。