（一）iEDX-150μWT X射線測厚儀產品優勢

1. 鍍(du)層檢測，多鍍(du)層檢測可達5層，精度及穩定性高（見(jian)以下產(chan)品特(te)征詳述）。

2. 多導毛細(xi)管配置，光斑(ban)尺寸50um

3. 平臺尺(chi)寸：620*525mm，樣品移動(dong)距離可達250*250mm。

4. 激光定位。

• 可檢測軟硬板電(dian)鍍層厚度(du)。

• 運(yun)行及(ji)維護成本低、無(wu)易損易耗品，對使(shi)用環境相對要求低。

• 可(ke)進行未知標(biao)(biao)樣掃描、無(wu)標(biao)(biao)樣定(ding)性，半定(ding)量分析。

• 操作簡單(dan)、易(yi)學(xue)易(yi)懂、精準無損、高品質、高性(xing)能、高穩定(ding)性(xing)，快速出檢測結果。

• 可針對客(ke)戶個性化要求量身定做(zuo)輔助分析配置硬(ying)件。

• 軟件*升級。

• 無損檢(jian)測，一次性購買標樣(yang)可長期使用。

• 使用安心無憂(you)，售后服務響應時間24H以內，提(ti)供(gong)*保姆式服務。

• 可(ke)以遠(yuan)程操(cao)作，解決客戶使(shi)用(yong)中(zhong)的后顧之憂。

（二）iEDX-150μWT X射線測厚儀產品特征

• 高性能高精度(du)X熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀（XRF）

• 計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通(tong)道逐(zhu)次近似計算法ADC（模擬數字轉(zhuan)換(huan)器(qi)）。

• Multi Ray. 運用基本(ben)參數(shu)（FP）軟件，通過簡單的(de)三步進行無(wu)標樣標定，使用基礎參數(shu)計算方(fang)法，對樣品(pin)進行精確的(de)鍍層厚度(du)分析。

• MTFFP (多(duo)層(ceng)薄膜基本參數法) 模塊(kuai)進(jin)行(xing)鍍層(ceng)厚度分(fen)析

多鍍層厚度同時測量

4.1 單性(xing)金屬鍍層(ceng)厚度(du)測(ce)量。

4.2 合(he)金鍍(du)層(ceng)厚(hou)度測(ce)量。

4.3 雙鍍層(ceng)厚(hou)度測量。

4.4 雙(shuang)鍍層(ceng)（其(qi)中一層(ceng)是合金）厚度測量(liang)。

4.5 三鍍層厚度測量。

4.6 測(ce)量(liang)點(dian)大小：50um。