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X射線鍍層膜厚儀

簡要描述：

X射線(xian)鍍層膜厚儀可進行(xing)未知(zhi)標(biao)樣掃描(miao)、無標(biao)樣定(ding)性，半定(ding)量分(fen)析(xi)，運(yun)行(xing)及(ji)維護成本低(di)、無易損易耗品(pin)，對使用(yong)環(huan)境(jing)相對要求低(di)。可針對客戶(hu)個性化要求量身定(ding)做輔(fu)助分(fen)析(xi)配置硬件。

更新時間：2023-04-24

品牌ISP/韓國行業專用類型電子產品
重復性5%能量分辨率159或125eV
分析含量范圍0.1%-99.9%元素分析范圍13（Al）-92（U）
價格區間10萬-30萬儀器種類臺式/落地式
應用領域環保,化工,電子測量時間1-120秒
可測層數多鍍層1-5層平臺移動范圍200mm*200mm*5mm
　　X射線鍍層膜厚儀
 
　　產品類型：能量色散 X 熒光光譜分析設備
 
　　產品名稱：X射線鍍層膜厚儀
 
　　型 號：iEDX-150WT
 
　　生 產 商：韓國 ISP 公司
 
　　特點：該型儀器采用開槽式大平臺設計，適合測試扁平狀大面積樣品，適合線路板及連接器行業的鍍層厚度管控。
 
        (一)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產品優勢
 
　　1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高。
 
　　2. 平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達 110*110*5mm。(固定臺可選)
 
　　3. 激光定位和自動多點測量功能。
 
　　4. 可檢測固體、粉末狀態材料。
 
　　5. 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低。
 
　　6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。
 
　　7. 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性，快速出檢測結果。
 
　　8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
 
　　9. 軟件升級。
 
　　10. 無損檢測，一次性購買標樣可長期使用。
 
　　11. 使用安心無憂，售后服務響應時間 24H 以內，提供*保姆式服務。
 
　　(二)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術指標
 
　　1. X 射線管：高穩定性 X 光光管，微焦點 X 射線管、Mo (鉬) 靶
 
　　鈹窗口， 陽極焦斑尺寸 75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。
 
　　50kV，1mA。高壓和電流設定為應用程序提供良好性能。
 
　　2. 探測器：SDD 探測器(可選Si-Pin)
 
　　能量分辨率：125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
 
　　3. 濾光片/可選
 
　　初級濾光片：Al濾光片，自動切換
 
　　7個準直器：客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
 
　　(三)X射線鍍層測厚儀測量原理
 
 

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