X射線鍍層測厚(hou)儀的測(ce)(ce)量(liang)方法(fa)主要(yao)有(you)：楔(xie)切法(fa)，光截法(fa)，電解法(fa)，厚度差測(ce)(ce)量(liang)法(fa)，稱重法(fa)，X射線熒光法(fa)， 射線反向(xiang)散射法(fa)，電容(rong)法(fa)、磁(ci)性測(ce)(ce)量(liang)法(fa)及渦(wo)流測(ce)(ce)量(liang)法(fa)等等。這些方法(fa)中前五(wu)種是有(you)損檢測(ce)(ce)，測(ce)(ce)量(liang)速度慢(man)，多適(shi)用于抽樣檢驗(yan)。
x射(she)(she)(she)線(xian)鍍(du)層測厚(hou)(hou)(hou)儀是(shi)通過X射(she)(she)(she)線(xian)激發各(ge)(ge)種物(wu)質(zhi)(如Mo、Ag、Mn)的(de)(de)特(te)征(zheng)X射(she)(she)(she)線(xian)，然后測量(liang)這(zhe)被釋(shi)放出(chu)來的(de)(de)特(te)征(zheng)X射(she)(she)(she)線(xian)的(de)(de)能(neng)量(liang)對(dui)樣品進(jin)行(xing)進(jin)行(xing)定性，測量(liang)這(zhe)被釋(shi)放出(chu)來的(de)(de)特(te)征(zheng)X射(she)(she)(she)線(xian)的(de)(de)強度(du)與標(biao)準片(或者對(dui)比樣)對(dui)比得出(chu)各(ge)(ge)物(wu)質(zhi)的(de)(de)厚(hou)(hou)(hou)度(du)，這(zhe)種強度(du)和厚(hou)(hou)(hou)度(du)的(de)(de)對(dui)應(ying)關(guan)系(xi)在軟件后臺形成曲(qu)線(xian)。而各(ge)(ge)種物(wu)質(zhi)的(de)(de)強度(du)增加，厚(hou)(hou)(hou)度(du)值也增加，但不是(shi)直(zhi)線(xian)關(guan)系(xi)；通過標(biao)樣和軟件及算(suan)法(算(suan)法有FP法和經(jing)驗系(xi)數(shu)法)得到一個接近實際(ji)對(dui)應(ying)關(guan)系(xi)的(de)(de)曲(qu)線(xian)。
x射線鍍層測厚儀原(yuan)理
1、原理(li)：X射(she)線照射(she)樣(yang)品(pin)，經過鍍層(ceng)界面，射(she)線返回的信號發生(sheng)突變，根(gen)據理(li)論上同(tong)材質**厚(hou)樣(yang)品(pin)反(fan)饋回強(qiang)度(du)的關系推斷鍍層(ceng)的厚(hou)度(du)。
理論(lun)上(shang)兩層中含有同(tong)一元素測試(shi)很困(kun)難（信號分不開(kai)）。
2、XRF鍍(du)層測厚儀(yi)(yi)：俗稱X射線熒光測厚儀(yi)(yi)、鍍(du)層測厚儀(yi)(yi)、膜(mo)(mo)厚儀(yi)(yi)、膜(mo)(mo)厚測試(shi)儀(yi)(yi)、金鎳(nie)厚測試(shi)儀(yi)(yi)、電鍍(du)膜(mo)(mo)厚儀(yi)(yi)等。
功(gong)能：精密測(ce)量金屬電鍍(du)層(ceng)的(de)厚度。
應用范(fan)圍：測(ce)量鍍(du)層,涂層,薄膜,液體的厚(hou)度或(huo)組成,測(ce)量范(fan)圍從(cong)22(Ti)到92(U)。
