一、概述
鍍層膜厚儀是一種用于測量工業制品表面涂層或鍍層的厚度的儀器，它可以通過反射或透射光線或電磁波來測量涂層或鍍層的厚度。該儀器廣泛應用于材料科學、制造業、涂層和表面工藝領域。
二、工作原理
工作原理是利用不同類型的傳感器，利用電流、光線反射和透射等方法，獲得表面涂層厚度的信息。
三、分類
按照測量原理分類，可以分為以下幾類：
1.X射線膜厚儀
2.電磁渦流膜厚儀
3.光學膜厚儀
4.激光光譜膜厚儀
5.螺旋掃描膜厚儀
按照用途分類，可以分為以下幾類：
1.金屬表面涂層或鍍層測量儀
2.金屬和非金屬表面涂層或鍍層測量儀
3.軟膜和有機膜測量儀
4.半導體或者電子元器件重要部位多層結構膜厚測量儀
按照測量范圍分類，可以分為以下幾類：
1.納米級膜厚測量儀
2.微米級膜厚測量儀
3.毫米級以上膜厚測量儀
四、構造
基本構造包括：測量頭、傳感器、主機、控制電路和顯示器等組成。其構造特點主要根據所采用的測量原理和應用場景而決定。
1.測量頭：根據不同的測量精度和應用場景而設計的。測量頭通常是由滑動、轉動、伸縮等手段組成，用于向被測物體的表面靠近。在具體的測量任務中，不同的測量頭可能會有不同的設計，并配有不同類型的探測器。
2.傳感器：其不同的設計原理直接影響了測量的精度和應用場景。傳感器的設計通常包括探頭、光源、光束分離器、探測器、電路和處理器等。
3.主機：指與傳感器和測量頭連接的控制中心，包括供電和控制電路，以及顯示器和數據接口等。主機的設計應保證可靠性和穩定性，以及靈活的數據處理能力，從而滿足各種不同的應用要求。
